近日，浙江省市場監(jiān)督管理局正式公布了首屆浙江省知識產權獎的獲獎名單，我司核心發(fā)明專利“ZL202011244319.0晶圓的測試方法、晶圓測試機、電子裝置和存儲介質”（以下簡稱發(fā)明專利）榮獲專利知識產權獎三等獎，此獎項是我司獲得的第一個專利專項獎。

浙江省知識產權獎是浙江省首次以省政府名義設立的全門類知識產權綜合獎，每3年評審1次，下設浙江知識產權大獎、專利獎、商標獎、版權和其他知識產權獎，旨在表彰激勵在知識產權強國建設先行省工作中做出突出貢獻的單位和個人。獲此獎項，是對我司知識產權建設情況的認可與肯定。

本發(fā)明專利技術由我司自主研發(fā)獲得，從一種全新的角度提出了一種晶圓的測試方法，解決了在晶圓測試領域出現(xiàn)的MAP圖刷新效率低、裸片測試效率低的問題, 具有極強的技術優(yōu)勢，提升了我司在測試晶圓市場的產品競爭力。同時，本發(fā)明專利也可用于涉及大數(shù)據(jù)查找算法的場景，市場前景廣，競爭力強。

本發(fā)明專利具有較強的技術實用性，我司已成功對本發(fā)明專利進行技術轉化并大規(guī)模應用，目前已成功應用于CTA8280系列的模擬測試機，未來也可用于其它測試晶圓和刷新MAP圖的產品，如SoC測試機等。

本發(fā)明專利的發(fā)明人為董雨晴、副總經理鐘鋒浩、鐘丹彪，三位長期專注于半導體測試領域的研發(fā)工作，為我司在測試領域的技術創(chuàng)新與積累做出了卓越貢獻。在此次獎項申報過程中，他們竭盡所能提供技術指導，最終獲獎也離不開他們的大力支持！

近年來，我司大力推進知識產權強企建設，制定了知識產權創(chuàng)造、運用、保護、管理和服務等一系列知識產權管理機制，充分保障知識產權工作落實到位。我司圍繞核心技術構建專利池，并在外圍有計劃的進行專利布局，形成了一道道專利網，對公司的核心技術進行了有效保護，促進了公司高價值專利布局的戰(zhàn)略實施。

未來，我們將繼續(xù)全面深入開展知識產權工作，落地中長期發(fā)展規(guī)劃，為實施創(chuàng)新驅動發(fā)展戰(zhàn)略提供有力支撐，同時也為“把長川科技打造成為國際一流的集成電路裝備供應商”的戰(zhàn)略目標提供強力保障。